

華東代理fischer xdl-b鍍層測厚儀 FISCHERSCOPE-XDL-B是一款基于Windows 的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統。測量方向從上往下,單一鍍層、二元合金層、三元合金層和雙鍍層例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/C
查看詳細介紹Fischer鐵素體校準標準片 套件(含證書) Helmut Fischer提供鑒定過的校準標準片供客戶校準儀器,這些標準片可以追溯到TWI二級標準片。標準片上標明了兩種單位:鐵素體個數FN和百分比含量%Fe。可通過發貨前設置修正系數或用客戶定制的標準片校準儀器來減少工件幾何形狀(曲率、厚度等)對測量的影響
查看詳細介紹德國FISCHER公司X-RAY熒光測厚儀 HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統有超過17年的經驗。 通過對所有相關過程包括X射線熒光測量法的精確處理和使用了新的軟件和硬件技術,FISCHER 公司的X射線儀器具有其*的特點
查看詳細介紹fischer elektronik測厚儀代理現貨 涂鍍層測厚儀 別名:涂層測厚儀,鍍層厚度測量儀,涂鍍層厚度無損測量儀,手持式涂鍍層測厚儀,表面電鍍層厚度測量儀,油漆涂層測厚儀,便攜式涂層測厚儀,*涂層測厚儀,無損測厚儀,覆層測厚儀。。。
查看詳細介紹德國HELMUT FISCHER鐵素體含量測量儀 Feritscope FMP30采用磁導原理,鐵素體含量是通過磁導率確定。主要性能參數是通過在較有名實驗室里大量實驗樣件的基礎上得到,并存儲在儀器內。通過正確校準標準試塊測量鐵素體含量,測量的精度得到改進、提高。
查看詳細介紹德國fischer銅箔厚度測試儀 菲希爾能提供多樣的產品種類,包括大量創新性的測試儀器,應用于鍍層厚度測量、材料分析和測試、及納米壓痕等領域。您行業中各種應用都可以在這里一站式地得到完美解決,從而讓您能以高的準確度獲得可靠的測試結果。
查看詳細介紹費希爾FISCHERSCOPE MMS PC2國內代理 使用一臺儀器就可同時完成鍍層厚度測量和材料性能測試。FISCHERSCOPE® MMS® PC2具有數據采集和測量數據處理能力,是一臺結構小巧且適用范圍廣泛的多功能桌上測量系統。它既可以用來進行手動的樣品來料檢驗
查看詳細介紹HelmutFischer gmbh fmp30鐵素體含量測定儀 儀器符合Basler標準和DIN 32514-1標準,適合于現場檢測,可以測量奧氏體覆層、不銹鋼管道、容器和鍋爐焊縫內以及奧氏體鋼或雙相鋼制造的其他產品內的鐵素體含量。
查看詳細介紹德國Fischer x射線測厚儀 XULM 240代理 XULM特別適合測量細小的部件如連接器,觸點或線,也可以測量印刷線路板上的Au,Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點為Ø0.25mm的準直器測量,20秒的重復精度可達2.5nm。
查看詳細介紹Fischer DUALSCOPE MPOR USB膜厚儀 MP0R USB涂層測厚儀它*的符合人類工程學設計的集成于儀器的恒壓測量探頭允許方便地單手操作,MP0RUSB漆膜測厚儀。
查看詳細介紹德國FISCHER公司生產鐵素體檢測儀fmp30 鐵素體檢測儀什么牌子好,我司推薦德國菲希爾fischer 便攜式鐵素體含量件檢測儀,FeritScope FMP30 ,設計輕巧,堅固耐用,奧氏體鋼和雙相鋼中鐵素體含量的測定,高性價比之選。
查看詳細介紹Helmut Fischer鐵素體測量儀FMP30 FERITSCOPE FMP30 依據磁感應方法進行測量。線圈產生的磁場區域與工件內的磁性部件相互作用,磁場區域的變化在第二個線圈內產生感生電壓,該電壓與鐵素體含量成比例關系,然后評估該電壓。
查看詳細介紹fischer膜厚儀 ISOSCOPE®、 DELTASCOPE® 和DUALSCOPE® 手持式儀 器,配合各種探頭使用,可以簡單、快速地測量涂鍍層的厚度。FISCHERSCOPE® MMS® PC, 集成了磁感應法、渦流法和BETA背反射法的多功能測量系統,用于測量鍍層厚度和材料測試
查看詳細介紹fischer涂層測厚儀pmp10操作說明書 : 該儀器是 FISCHER 公司新一代的涂鍍層測厚儀。它采用大屏幕矩陣顯示器和相位靈敏測試方法,使用更方便、測量更正確。
查看詳細介紹電導率計SMP10 fischer德國進口 SIGMASCOPE SMP10是一種便攜手持式式電導率計,可提供快速,簡單,現場的測量,并且在必要時可以無接觸地測量非磁性金屬的電導率。
查看詳細介紹德國fischer手持式 鐵素體檢測儀 在奧氏體或雙相鋼必須承受高溫,腐蝕性物質和高壓的任何地方,鐵素體含量都起著至關重要的作用。 尤其是在化工廠,能源公用事業和過程工程工廠進行現場測量時,Fischer手持設備的優勢變得非常明顯。
查看詳細介紹fischer熒光測厚儀xdl210 菲希爾X射線電鍍鎳金測厚儀,該款儀器特別為頗具挑戰性的RoHS/ WEEE分析而研發。而且,它還十分適合于測量黃金及其他貴金屬,分析金的成分重復性可達0,5 ‰。可
查看詳細介紹Fischer測厚儀渦流探頭FAW3.3 FAW3.3適用于平面樣品、孔洞、管子和過渡區域的涂鍍層厚度測量。測量非鐵磁性金屬基材(NC / NF)上的非導電涂層。 適用于平面樣品或管道鉆孔和凹槽的測量。
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